VSM振动样品磁强计
振动样品磁强计VSM产品进行表征,固体、液体、粉末、薄膜、单晶和岩石等样品都可以作为EZ-VSM测量的对象。EZ-VSM可以进行几乎所有的磁学实验测量:比如磁滞回线和小磁滞回线、IRM和DCD剩磁曲线、SFD、Delta M、Delta H、Henkel Plots、变角和AC剩磁曲线、温度扫描和时间衰减等测试。
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振动样品磁强计VSM产品进行表征,固体、液体、粉末、薄膜、单晶和岩石等样品都可以作为EZ-VSM测量的对象。EZ-VSM可以进行几乎所有的磁学实验测量:比如磁滞回线和小磁滞回线、IRM和DCD剩磁曲线、SFD、Delta M、Delta H、Henkel Plots、变角和AC剩磁曲线、温度扫描和时间衰减等测试。
MicroSense公司(以前的DMS和ADE公司)具有近35年的生产振动样品磁强计和其他磁测量设备的行业经验,其生产的振动样品磁强计(VSM)已经成为众多大学和科研机构实验室、包括公司和企业必不可少的设备之一。几乎所有类型的磁性材料都可以使用Easy(EZ)系列振动样品磁强计VSM产品进行表征,固体、液体、粉末、薄膜、单晶和岩石等样品都可以作为EZ-VSM测量的对象。
EZ-VSM可以进行几乎所有的磁学实验测量:比如磁滞回线和小磁滞回线、IRM和DCD剩磁曲线、SFD、Delta M、Delta H、Henkel Plots、变角和AC剩磁曲线、温度扫描和时间衰减等测试。同样,用户也可以通过系统功能来进行自定义测量,只需灵活的运用Easy VSM软件进行编程即可完成。该软件具有强大的处理数据能力,可以直接读取HCB、HCJ、磁能积和各向异性场等参数,对研究永磁的客户非常方便。所有的EZ系列产品都可同时配备磁扭矩测试和磁电阻测试系统,另外新增了磁光克尔和磁电耦合测试、铁磁共振选件,拓展了设备的测试功能。
产品特点:
• 任何测试间距都具有噪声
• 当选配EZ1-LNA温度组件时,噪声低于0.5 µemu
• 在可用样品空间内噪声低于0.1 µemu
• 场噪声低,约5 mOe
• 磁场分辨率高,约0.2 mOe
• 扫场速率最高可达1T/s,采点速率1000点/s
• 无需硬件切换即可调节77 K、100-1000 K温区
• 新增磁光克尔功能、新增磁电耦合选件、直流/交流磁电阻选件、FMR选件、自动进样选件
• 选用温度选件时,具有10mm样品腔空间
• 安全可靠的风冷磁体电源
• 设备设计紧凑,所需空间小
应用领域:
• 声频
• 视频数据磁带
• 软磁媒体
• 溅射与电镀型薄膜磁盘
• 磁光盘
• 多层膜结构
• 软、硬磁铁氧体
• 磁粉
• 永磁材料
• 高温超导体
• 强磁性铁镍合金以及其他软磁材料
设备选件:
• 样品自动旋转台(EZ1-VAR, 范围:±400° 精度:±0.2°)
• 一体化高低温选件(EZ1-LNA Temperature Control, 77K, 100K-1000K)
• 液氦低温选件(EZ1-LHE, 4.2K, 8K-450K)
• 超高温选件(EZ1-HT, 300K-1300K)
• 磁性矢量测量选件(EZ1-VSC-DSP, 噪声: 400 nemu RMS(10s/点);1000 nemu RMS (0.1s/点))
• 快速扫场选件(EZ1-SWP,每秒最多1000个点,最大速率1T/s)
• 磁光克尔选件(EZ1-MOKE)
• 转动磁扭矩测量系统(EZ1-TRO 1-400 dyne-cm)
• 磁阻测量选件(EZ1-MR、EZ1-MR-AC)
• 磁电耦合选件(EZ1-ME)
• 自动进样选件(EZ1-ASL)

应用案例:
金属有机磁体磁学性能表征
近期,来自国家科学研究中心波尔多大学Panagiota Perlepe等研究者,用一种常规、简单、高效的轻量化分子基磁体合成含有铬金属离子和吡嗪构建块的预组装配位网络,由此产生的金属有机铁氧体具有高达242°C的临界温度和7500Oe的室温矫顽力。该工作被发表在Science期刊上,在该项工作中,研究者利用MicroSense EZ系列振动样品磁强计分别对材料低温温区的磁学性能进行了表征。其中通过Microsense EZ系列VSM磁强计对材料300K-600K的测量数据的Tc点(510K)进行了标定。
VSM测量数据:
矫顽力0.07 Oe的检测,磁场间隔为2 mOe。EZ-VSM在不需要选件的情况下低场分辨率超过了某些使用了赫姆霍兹线圈的VSM

3.6mm样品空间10s/点进行平均测量的噪声,噪音指标仅为14.2 nemu RMS和 70 nemu PP

FORC测试结果。91条曲线,33000数据点,36分钟在扫描模式下测试数据

磁扭矩测量

铁磁共振FMR测试数据

设备型号:
|
样品空间 |
EZ7 |
EZ7 HF |
EZ9 |
EZ9 HF |
EZ16 |
|
3.5 mm |
2.6T |
2.76T |
3.0T |
3.08T |
3.6T |
|
10mm |
2.32T |
2.45T |
2.75T |
2.85T |
3.3 T |
|
16mm |
2.06T |
2.12T |
2.4T |
2.58T |
3.0T |
|
EZ1-LNA一体化 |
2.03T |
2.1T |
2.4T |
2.54T |
2.95T |
|
高低温选件 |
1.6T |
1.7T |
2.15T |
2.3T |
2.7T |
|
EZ1-HT |
1.8T |
1.9T |
2.2T |
2.3T |
2.8T |
|
300-1300K超高温选件 |
2.32T |
2.45T |
2.7T |
2.88T |
3.3T |
|
EZ1-VSC-DSP |
2.4T |
2.55T |
2.8T |
3.0T |
3.6T |
场精度与场噪声:
|
范围 |
分辨率 |
噪音(RMS) |
|||
|
高斯 |
特斯拉 |
高斯 |
特斯拉 |
高斯 |
特斯拉 |
|
100-200 Gs |
10-20 mT |
0.4 mGs |
≤40nT |
1 mGs |
100 nT |
|
400 Gs |
40 mT |
1 mGs |
100 nT |
2 mGs |
200 nT |
|
1 kGs |
0.1 T |
2 mGs |
200 nT |
10 mGs |
300 nT |
|
2 kGs |
0.2 T |
4 mGs |
400 nT |
15 mGs |
300 nT |
|
4 kGs |
0.4 T |
10 mGs |
1 μT |
15 mGs |
400 nT |
|
10 kGs |
1 T |
20 mGs |
2 μT |
20 mGs |
1 μT |
|
20 kGs |
2 T |
40 mGs |
4 μT |
20 mGs |
1 μT |
|
40 kGs |
4 T |
0.1 Gs |
10 μT |
50 mGs |
2 μT |
|
磁场精度:1% 读数 或 0.05% 全量程 |
|||||
|
场控制稳定度:< 0.05% RMS |
|||||
磁矩范围与噪音:
|
噪声 (nemu RMS) |
|
|
室温 |
|
|
3.5mm样品空间,0.1s/点 |
125 |
|
3.5mm样品空间,10s/点 |
20 |
|
10mm样品空间,0.1s/点 |
250 |
|
10mm样品空间,10s/点 |
65 |
|
EZ1-LNA变温选件,0.1s/点 |
500 |
|
EZ1-LNA变温选件,10s/点 |
120 |
|
矢量VSM配件,0.1s/点 |
1000 |
|
矢量VSM配件,10s/点 |
400 |
|
LHe 或HT变温选件,0.1s/点 |
2500 |
|
LHe 或HT变温选件,10s/点 |
500 |
温度范围:
|
EZ1-LNA |
EZ1-LHe |
EZ1-HT |
|
|
范围 |
77K, 100K-1000K |
4.2K, 8K-420K |
300K-1300K |
|
分辨率 |
0.01K |
0.01K |
0.01K |
|
内径 |
10 mm |
9 mm |
8 mm |
|
最快变温速度 |
100 K/min |
30 K/min |
100 K/min(升温) |
|
0.1s/pt噪音 |
0.6 µemu |
2.5 µemu |
2.5 µemu |
|
10s/pt噪音 |
0.12 µemu |
0.5 µemu |
0.5 µemu |
|
所需气体 |
液氮<300K N2 :77-573K Ar:300-1000K |
液氦与氦气 |
氩气 |